通過(guò)對(duì)探針臺(tái)和測(cè)試儀器的控制，實(shí)現(xiàn)晶圓上芯片的自動(dòng)化在片測(cè)試，并輸出測(cè)試結(jié)果分布MAP圖和數(shù)據(jù)。
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