高性能XRF鍍層測(cè)試儀，適用于超小部件上的超薄鍍層分析

• 使用多毛細(xì)管光學(xué)聚焦系統(tǒng)，光斑尺寸<50um
• 數(shù)秒間測(cè)試納米級(jí)鍍層厚度
• 高分辨率硅偏移探測(cè)器
• 簡單易用的操作軟件
• 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力